B10 EyePoint Система обнаружения неисправностей в BGA-корпусах

Автоматическая система обнаружения неисправностей EyePoint B10

сравнивает сигнатуры (уникальные вольт-амперные характеристики) каждого вывода исследуемой микросхемы с сохраненными в памяти опорными данными оригинального чипа и делает вывод не только об исправности исследуемого чипа, но и о его принадлежности к одной серии или ревизии с оригинальной микросхемой.
Приобретенный у недобросовестного поставщика исключительно дорогой ПЛИС был оригинальным, но далее перемаркированным, восстановленным, убитым статикой или поврежденным несоблюдением условий хранения и транспортировки. Такие дефекты чрезвычайно сложно диагностировать рентгенографическим методом, так как геометрия внутренних структур сохранена. Кроме того, рентген дорог и времязатратен. Отбраковку можно произвести с помощью функционального теста, но такой тест требует либо запайки / выпайки / реболлинга каждого компонента, либо изготовления дорогостоящей оснастки. И, в любом случае, требуется разработка программного кода теста, уникального для каждой микросхемы, а также применение специализированного чиптестера.
Оптическая инспекция во многих случаях позволяет распознать перемаркированный или восстановленный BGA чип, но она бессильна в случае внутренних повреждений или деградации электрических характеристик микросхемы.

Технические характеристики анализатора плат B10 EyePoint:

- Напряжение пробного сигнала: 1.2, 3.3, 5, 12 В
- Частота пробного сигнала: 1, 10, 100 Гц, 1, 10, 100 кГц
- Диапазон тока: 25 мкА - 25 мА
- Чувствительность по R: 1 Ом - 10 МОм
- Чувствительность по C: 50 пФ - 6800 мкФ
- Чувствительность по L: 1 - 10 мкГн
- Поддерживаемые типы корпусов: BGA, LGA, PGA, LCC, CSP
- Электропитание: ~220 В, 300 Вт
- Рабочая область: 280 x 275 х 63 мм
- Скорость построения карты тестирования: до 10 см²/мин
- Скорость тестирования: до 100 точек/мин
- Точность установки щупа: 30 мкм
- Время на смену образца: 10 сек
- Минимальное расстояние между точками тестирования: 0.4 мм
- Максимальное количество точек тестирования: 2500 шт.
- Расположение выводов: произвольное
- Управляющий ПК с комплектом ПО
- Габариты: 604 х 543 х 473 мм
- Вес: 50 кг
Для тестирования микросхем необходимо изготовить оснастку, подходящую к вашему типу корпусов.

Сфера применения сигнатурного анализатора B10 ЦИФ МГУ EyePoint :

EyePoint B10 будет полезна инженеру, который занимается разработкой и/или ремонтом сложного электронного оборудования для ответственных применений, когда перед запайкой необходимо убедиться, что BGA компонент исправен или не был поврежден в процессе реболлинга. Спорный компонент помещается в EyePoint B10 для сравнения, выбирается соответствующий заведомо исправный компонент из базы EyePoint B10 и запускается сканирование.
EyePoint B10 незаменима в испытательной лаборатории любого поставщика современных микросхем.