MUX EyePoint Сигнатурный анализатор

MUX EyePoint Сигнатурный анализатор

Устройство для автоматизации входного контроля микросхем и тестирования краевых разъемов печатных плат. Предназначено для коммутирования одного входного канала на любой из выходных каналов в заданной оператором последовательности. Состоит из материнской платы EyePoint MUX_M и подключаемых к ней модулей EyePoint MUX_S_A
Работает совместно с измерителем и специализированной оснасткой.
Под заказ

Описание мультиплексора EyePoint MUX:



- Материнская плата мультиплексора, необходимая для работы модулей EyePoint MUX_S_R. Позволяет подключать до 8 модулей на 64 канала.

- Модуль мультиплексора на 64 канала. Подключение «один ко многим» Позволяет зондировать каждый из 64 каналов по отношению к общему проводу.


Cкалирование модулей коммутации MUX ЦИФ МГУ:


Возможность соединения модулей EyePoint MUX для получения большего количества выходных каналов.
Максимальное количество соединяемых модулей - 8 штук, что дает 512 каналов на выходе.


Совместимость коммутатора MUX EyePoint с анализаторами плат EyePoint:




Тестирование печатных плат:



Введенные в отношении нашей страны санкции вызвали уход практически всех поставщиков электронных компонентов с рынка. Так как закупка новых компонентов стала ограничена, компаниям приходится чинить старые платы. Зачастую за счет отслуживших устройств. Поэтому в ходе ремонта важно не только выявить повреждения, которые нужно устранить, но и убедиться в исправности компонентов, планируемых для монтажа на плату.
Комплексная система на основе EyePoint MUX с помощью метода аналогового сигнатурного анализа позволяет автоматизировать обнаружение поврежденных электронных компонентов, а также выявление возможных неисправностей, таких как разрывы в цепи, непропай, выход их строя защитных диодов, повреждение входных/выходных цепей и т.д.
Благодаря входящему в комплект поставки ПО EPLab Вы получите отчет о выполненном тестировании с полным перечнем обнаруженных дефектов электронных компонентов.


Тестирование микросхем:



Глобальная проблема современности - дефицит полупроводников. Вызванное этим повышение цен на чипы спровоцировало огромный приток контрафакта. Без специального оборудования выявить подделку практически невозможно, а использовать непроверенные микросхемы опасно. Что же делать, чтобы не нести серьезные убытки?
Разработанная в ЦИФ МГУ комплексная система для тестирования микросхем на основе ЕyePoint MUX позволит проверить состояние чипов и выполнить входной контроль, выявляя контрафактные и перемаркированные чипы до того, как они будут использованы в серийном производстве, а входящее в комплект поставки ПО EPLab предоставит отчет о выполненном тестировании.


Показать большеменьше
Характеристика Значение

Похожие товары

P10 EyePoint Система локализации неисправностей на плате
Сигнатурный анализатор - автоматическая система локализации неисправных электронных компонентов на печатных платах. 100 измерений в минуту, 10 см²/мин скорость тестирования, 30 мкм погрешность позиционирования.
Под заказ
B10 EyePoint Система обнаружения неисправностей в BGA-корпусах
Сигнатурный анализатор - настольная автоматическая система для обнаружения контрафактных, перемаркированных или неисправных электронных компонентов в BGA корпусах методом АСА.
Под заказ
u22 EyePoint Сигнатурный анализатор
Портативный двухканальный модуль для поиска неисправных электронных компонентов на печатных платах методом аналогового сигнатурного анализа (Analog Signature Analysis - «ASA» ).
Под заказ
S2 EyePoint Локализатор неисправных электронных компонентов
Сигнатурный анализатор - настольный локализатор неисправных электронных компонентов на печатных платах методом аналогового сигнатурного анализа.
Под заказ

Вы смотрели